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  • COMPUR MONITORS SDM-72潤滑油鐵粉檢測儀
    COMPUR MONITORS SDM-72潤滑油鐵粉檢測儀

    COMPUR MONITORS SDM-72潤滑油鐵粉檢測儀 如果油脂壓力過大，鐵可能會發(fā)生磨損。潤滑脂介質(zhì)中鐵含量越多，磨損就越劇烈。該工具可幫助您決定何時必須更改分辨率。只需用小抹刀取出樣品并將其插入儀器即可

    更新時間：2024-12-10型號：訪問量：499
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  • MODEL 1404NONSEQUITUR 大束流離子源離子槍
    NONSEQUITUR 大束流離子源離子槍

    NONSEQUITUR 大束流離子源離子槍ION GUNS: MODEL 1404 支持所有惰性氣體外加氮氣，可選氧氣功能，帶Thoria涂層燈絲

    更新時間：2024-12-10型號：MODEL 1404訪問量：482
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  • MODEL 1401NONSEQUITUR 離子源離子槍
    NONSEQUITUR 離子源離子槍

    NONSEQUITUR 離子源離子槍 ION GUNS: MODEL 1401 5EV – 5KEV 氣相離子源 Nonsequitur公司的Model 1401離子源離子槍非常適合用于表面化學實驗，例如使用Auger 和ESCA進行樣品制備和深度分析，可以用于惰性氣體。

    更新時間：2024-12-10型號：MODEL 1401訪問量：427
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  • MODEL 1407NONSEQUITUR 雙等離子發(fā)射器離子槍離子源
    NONSEQUITUR 雙等離子發(fā)射器離子槍離子源

    NONSEQUITUR 雙等離子發(fā)射器離子槍離子源 氣相離子源ION GUNS MODEL 1407 氣相源HE, NE, AR, KR, XE 束斑可調(diào)節(jié)

    更新時間：2024-12-10型號：MODEL 1407訪問量：428
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  • MODEL 145050KEV光斑可調(diào)節(jié)離子源
    50KEV光斑可調(diào)節(jié)離子源

    50KEV光斑可調(diào)節(jié)離子源配備雙燈絲可集成濾波器MODEL 1450，具有可調(diào)光斑尺寸≥5 μm，用于空間定義的濺射或注入發(fā)射調(diào)節(jié)轟擊提供穩(wěn)定的離子電流

    更新時間：2024-12-10型號：MODEL 1450訪問量：463
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  • UHV美國 IK-TECHNOLOGIES 多探針分析系統(tǒng)
    美國 IK-TECHNOLOGIES 多探針分析系統(tǒng)

    美國 IK-TECHNOLOGIES 多探針分析系統(tǒng)：UHV 除了表面分析組件外，LK Technologies還專門設(shè)計和構(gòu)建完整的特高壓系統(tǒng)，這些系統(tǒng)通常結(jié)合了LK組件和其他制造商的多種表面分析方法。

    更新時間：2024-12-10型號：UHV訪問量：534
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  • TDS1000美國 IK-TECHNOLOGIES 熱解吸光譜儀
    美國 IK-TECHNOLOGIES 熱解吸光譜儀

    美國 IK-TECHNOLOGIES 熱解吸光譜儀TDS1000 我們的TDS1000是一個集成的系統(tǒng)工具，使用戶能夠以高靈敏度和定量校準獲得TPD光譜。

    更新時間：2024-12-10型號：TDS1000訪問量：471
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  • LK1000M美國 IK-TECHNOLOGIES 電子槍
    美國 IK-TECHNOLOGIES 電子槍

    美國 IK-TECHNOLOGIES 電子槍 LK1000M 具有出色能量分辨率的電子源，針對高輸出電流進行了優(yōu)化應(yīng)用于逆UPS，EELS等電子碰撞實驗。

    更新時間：2024-12-10型號：LK1000M訪問量：540
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